布鲁克全反射X射线荧光光谱仪
布鲁克全反射X射线荧光光谱仪S4 TStarX 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。
S4 TStar — TXRF的明星
数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成为原子吸收光谱法（AAS）以及电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）或质谱法（ICP-MS）的理想的替代性方法。现在，S4 TStar 在台式TXRF 光谱仪的性能、自控和质量方面开创了新的标准。
全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）S4 TStar优异的样品通用性
S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。它的样品通用性ICP。
ICP 只能分析完全溶解的液体样品。
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